2019.09.26 導入大數據分析 優化半導體製程

半導體產業的摩爾定律(Moore’s Law)不斷推進，積體電路不斷微縮，製程的複雜度日益提高，只要製程有一環節出錯，都將造成時間和金錢成本的巨大浪費，甚至導致整公司整體競爭力下降。再者，隨著製程精進，設備投資愈大，產品良率提高才能創造獲利空間，因此必須借助監控、即時診斷及預防等方法來確保製程運行順利。

近年來，半導體公司利用大數據分析，逐步由自動化進展至智慧製造，無論是製程良率、產品品質及成本控制，都得以持續優化。

素有台灣半導體自動化教父之稱的成大製造所暨資工系講座教授鄭芳田，近年積極推廣工業4.1願景，也就是除了提升生產效率，還必須提升產品品質，甚至是實現產品「零缺陷」。鄭芳田同時也是成功大學智慧製造研究中心(iMRC)主任。

全自動虛擬量測  實現全檢

要實現零缺陷，全檢是必要手段，但是以傳統方法進行全檢並不實際，所以業者只能抽檢。iMRC開發的全自動虛擬量測(AVM)技術方式，是利用機台參數推估在線生產的產品品質，進行線上且即時的估測，以此種虛擬方法代替實體量測，廠商毋需購置大量硬體設備且檢測時間大幅縮短，全檢成為可能。